Ang prinsipyo ng pagtuklas ng mga optical detection na kagamitan ay pangunahing batay sa mga katangian ng ilaw at optical phenomena.
Ang ilaw ay may mga katangian ng alon at butil, na nagbibigay -daan sa pakikipag -ugnay sa mga bagay at makabuo ng iba't ibang mga nakikitang signal. Ang mga karaniwang prinsipyo ng optical detection ay kasama ang:
Prinsipyo ng Pagninilay: Kapag ang ilaw ay tumama sa ibabaw ng isang bagay, sumasalamin ito. Ang mga bagay na may iba't ibang mga materyales at estado ng ibabaw ay may iba't ibang mga katangian tulad ng intensity at anggulo ng nakalarawan na ilaw. Sa pamamagitan ng pagtuklas ng mga katangiang ito ng nakalarawan na ilaw, ang kalidad ng ibabaw, hugis, laki at iba pang impormasyon ng bagay ay maaaring hatulan. Halimbawa, ang isang photoelectric sensor ay ginagamit upang makita ang pagbabago sa intensity ng nakalarawan na ilaw sa ibabaw ng isang bagay upang matukoy kung ang bagay ay may mga depekto o kapintasan.
Prinsipyo ng pagwawasto: Kapag ang ilaw ay pumapasok mula sa isang daluyan hanggang sa isa pa, ito ay mag -refract, at ang anggulo ng pagwawasto ay nauugnay sa refractive index ng medium. Sa pamamagitan ng pagsukat ng anggulo ng refracted light o ang pagbabago sa refractive index, ang mga materyal na katangian, kapal, atbp ng bagay ay maaaring matukoy. Halimbawa, sa kalidad ng inspeksyon ng optical glass, ang pagkakapareho at refractive index ng baso ay nasuri sa pamamagitan ng pagsukat ng anggulo ng pagwawasto ng ilaw kapag dumadaan ito sa baso.
Ang prinsipyo ng panghihimasok: Kapag nagtatagpo ang dalawang magkakaugnay na ilaw ng ilaw, nangyayari ang panghihimasok, na bumubuo ng mga panghihimasok na mga fringes ng ilaw at madilim. Sa pamamagitan ng pag -obserba ng hugis at spacing ng mga panghihimasok na fringes, ang micro micro - displacement, flatness, atbp ay maaaring masukat. Sa ilang mga mataas na - katumpakan na optical na pagsukat ng mga instrumento, tulad ng mga mikroskopyo ng pagkagambala, ang prinsipyo ng panghihimasok ay ginagamit upang masukat ang morpolohiya ng ibabaw ng mga bagay.
Prinsipyo ng pagkakaiba -iba: Kapag ang ilaw ay dumadaan sa mga hadlang tulad ng maliit na butas o slits, magkakaiba ito, at ang pattern ng pagkakaiba -iba ay nauugnay sa hugis at sukat ng balakid. Sa pamamagitan ng pagsusuri ng pattern ng pagkakaiba -iba, ang istraktura at laki ng impormasyon ng bagay ay maaaring ibukod. Halimbawa, sa x - teknolohiya ng pagkakaiba -iba ng sinag, ang pagkakaiba -iba ng kababalaghan ng x - ray ay ginagamit upang pag -aralan ang istraktura ng mga kristal.
Prinsipyo ng pagsipsip: Ang iba't ibang mga sangkap ay may iba't ibang mga katangian ng pagsipsip para sa ilaw. Ang ilang mga sangkap ay sumisipsip ng ilaw ng isang tiyak na haba ng haba at nagtatanghal ng isang tiyak na kulay o pagpapadala. Sa pamamagitan ng pagtuklas ng pagsipsip ng ilaw, maaaring matukoy ang komposisyon at konsentrasyon ng sangkap. Halimbawa, sa pagsusuri ng kemikal, ang isang UV - nakikitang spectrophotometer ay ginagamit upang masukat ang pagsipsip ng isang sangkap sa pamamagitan ng isang tiyak na haba ng haba ng ilaw upang matukoy ang nilalaman ng sangkap.
Sa madaling sabi, ang mga optical na kagamitan sa pagtuklas ay maaaring makakita ng iba't ibang mga pisikal at kemikal na katangian ng mga bagay sa pamamagitan ng cleverly na paggamit ng iba't ibang mga katangian at mga kababalaghan ng ilaw. Mayroon itong mga pakinabang ng hindi - contact, mataas na katumpakan, at mataas na bilis, at malawakang ginagamit sa produksiyon ng industriya, kontrol ng kalidad, pananaliksik sa agham at iba pang mga larangan.
